PM695焦平面红外测温技术的应用与分析

• 作者: 王润华 程世言
• 来源期刊: 上海电力
• 学科: 工学
• 关键词: PM695焦平面红外测温 设备发热 黑体 大气窗
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 经验介绍
• 页码范围: 359-361
• 页数: 3页
• 分类号: TN21
• 语种: 中文

摘要

电气设备载流导体发热会降低设备的绝缘水平,危及高压电网安全.介绍了从美国引进的PM695焦平面红外热像仪的特点,并通过具体实例,阐述了其在检测设备外部接头发热和设备自身发热中的应用情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程世言		2	0	0.0	0.0
2	王润华		5	7	1.0	2.0