自动相位步进技术在电子条纹干涉测量中的应用

• 作者: 李田泽 杨淑连 魏佩瑜
• 来源期刊: 压电与声光
• 学科: 工学
• 关键词: 光干涉仪 相位调制 条纹干涉
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术与测试方法
• 页码范围: 76-78
• 页数: 3页
• 分类号: TN253|TP212.11
• 字数: 1873字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2474.2004.01.023

摘要

采用闭环增益转换技术,通过一个同步信号或选择一个恰当的反馈环路参数,可得到一个连续的相位步进,实现自动相位步进在光纤光学中电子条纹干涉.这种技术既可用于单点也可用于图像结构的测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李田泽	山东理工大学电气与电子工程学院	79	290	10.0	12.0
2	杨淑连	山东理工大学电气与电子工程学院	47	198	8.0	10.0
3	魏佩瑜	山东理工大学电气与电子工程学院	27	123	6.0	10.0