荧光寿命的相敏检测技术的研究

• 作者: 王玉田 胡春海 邹晓红
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 荧光温度传感器 相敏检测技术 希尔伯特变换
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 314-316
• 页数: 3页
• 分类号: TP212.14
• 字数: 1148字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2004.02.034

摘要

针对光纤荧光温度传感器中影响系统精度的关键技术荧光寿命检测技术进行研究,用相敏检测技术对光纤荧光温度传感器的荧光寿命进行检测,提出了用希尔伯特变换技术改进基本的相敏检测技术,推导出了基于希尔伯特变换的荧光寿命相敏检测的数学模型,该方法省去了低通滤波器,对激励光泄漏有一定的抑制作用,试验表明,该方法是有效的,达到了系统的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王玉田	燕山大学电气工程学院	187	2131	24.0	35.0
2	胡春海	燕山大学电气工程学院	63	355	10.0	14.0
3	邹晓红	燕山大学电气工程学院	22	136	7.0	10.0