ZnO压敏元件雷电流冲击试验残压波形分析

• 作者: 卢振亚 庄严 杨凤金 江涛
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: ZnO压敏元件 残压波形 波前尖峰 电感性
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 敏感元器件
• 页码范围: 29-32,35
• 页数: 5页
• 分类号: TN6
• 字数: 3937字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2004.04.010

摘要

研究了ZnO压敏元件在8/20μs雷电波冲击试验时的残压波形.实验观察到残压波波前尖峰来源于所采用的放电回路触发元件--铜球间隙;在RLC回路临界点附近,随着冲击电流峰值的增大,残压波波尾从非振荡衰减过渡到大幅度的过零振荡;残压波峰值超前于电流波峰值,说明ZnO压敏元件在冲击电流作用下呈现出电感性,且放电电流越大,呈现的电感性越大;元件厚度越大,呈现的电感性也越大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卢振亚	华南理工大学材料学院	20	201	8.0	13.0
2	杨凤金		2	16	2.0	2.0
3	江涛	华南理工大学材料学院	18	107	6.0	10.0
4	庄严	中国电子科技集团公司第七研究所	4	45	3.0	4.0