薄层处理技术在厚层状非均质储层测井解释中的应用

• 作者: 施振飞 马向东
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 非均质储层 薄层处理技术 地层电阻率 孔隙度 含气饱和度 测井解释 应用
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 处理解释
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 分类号: P631.84|TE122.23
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2004.01.008

摘要

以ZJD构造E1f1段厚层状非均质储层为例,应用薄层处理技术对储层进行了精细划分和地层电阻率的求取,建立以含油气饱和度为核心内容的地层电阻率-孔隙度-地层原始含气饱和度解释图版,使解释精度大大提高,并对储层进行了综合评价与分类,为类似储层的评价提供了成功经验.