基于噪声功率谱的IC组件内部故障定位方法研究

• 作者: 周求湛 张新发 杨熙春 钱志鸿
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体噪声 故障组件 故障定位 不解体检测
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 670-672
• 页数: 3页
• 分类号: TN40
• 字数: 1921字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2004.04.031

摘要

由于半导体组件内部结构复杂,为了避免解体故障检测带来的诸多缺点,故障元件的不解体定位变得越来越重要.在研究、测试、分析器件噪声功率谱的基础上,利用器件噪声的特性,结合电路理论,首次提出对故障组件内的故障元件进行测试定位和比较放大器输入端电阻阻值大小的研究方法.试验结果表明:器件噪声测量可以应用于故障器件的不解体检测.从而为噪声测量方法应用开拓了一个新领域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱志鸿	吉林大学通信工程学院	72	2083	19.0	45.0
2	周求湛	吉林大学通信工程学院	37	162	7.0	11.0
3	张新发	吉林大学通信工程学院	3	5	2.0	2.0
4	杨熙春	中科院上海光学精密机械研究所	2	0	0.0	0.0