MQAM和MPSK在Nakagami衰落信道中的BER性能

• 作者: DARNELL Mike 范平志 谢俊松
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: BER性能 MQAM MPSK Nakagami衰落
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 短文
• 页码范围: 104-107
• 页数: 4页
• 分类号: TN929.5
• 字数: 880字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2004.01.021

摘要

基于AWGN信道中MQAM和MPSK的BER性能的近似准确分析结果,本文导出并分析了MQAM和MPSK在Nakagami-m衰落信道中采用或不采用MRC分集时的BER性能.分析结果表明,在AWGN信道、瑞利衰落信道甚至莱斯衰落信道下,现有采用或不采用MRC分集的系统性能分析结果均可以作为本文分析结果的特例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范平志	西南交通大学移动通信研究所	114	1717	18.0	38.0
2	谢俊松	西南交通大学移动通信研究所	7	40	3.0	6.0