一种基于ATPG的ASIC前端验证环境的构建

• 作者: 夏晓菲 程文青 赵宇
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 专用集成电路 前端验证 总线功能模型
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 190-193
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.06.051

摘要

文章提出了一种基于自动测试向量生成(ATPG)的ASIC前端验证环境的构建方案,方案整合C,TCL和Verilog HDL语言,有着良好的实用性和可扩展性.同时通过使用此验证环境,成功开发并流片成功三块总计约200万门的ASIC芯片.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程文青	华中科技大学电子与信息工程系	111	857	16.0	25.0
2	赵宇	华中科技大学电子与信息工程系	5	96	3.0	5.0
3	夏晓菲	华中科技大学电子与信息工程系	3	95	3.0	3.0