面向典型微流控芯片的流场测速技术研究

• 作者: 刘冲 徐征 王立鼎 陈阳 黎永前
• 来源期刊: 大连理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微流控芯片 显微粒子图像测速 示踪粒子
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 材料、机械工程
• 页码范围: 523-527
• 页数: 5页
• 分类号: TN405
• 字数: 4606字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-8608.2004.04.014

摘要

介绍了微流体流动特性测试技术的发展和应用概况,选用激发光源、荧光显微镜和高精度CCD摄像机等建立了显微粒子图像测速装置,用于测量微流控芯片内部电渗流流动特性,并给出显微成像单元、激发光源、示踪粒子的技术指标和适用范围.根据微流控芯片的特征尺寸和内部电渗流速度,分析了应用显微粒子图像测速技术测量微流场速度分布的测量分辨率、测量精度、测速范围等关键问题.研究结果表明:在电场强度100 V/cm、宽度50 μm的玻璃微通道内,硼砂电渗流速度约为220 μm/s,放大倍率低于40倍,MicroPIV动态测速范围能满足流场测速要求;选用直径300 nm的荧光粒子,在高于10倍放大倍率下,粒子像大于3个CCD像元的尺寸,可以进行观测;MicroPIV测速系统的测速精度则与光学系统、图像处理技术、电场力、布朗运动等有关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘冲	大连理工大学微系统研究中心	156	1345	17.0	30.0
2	王立鼎	大连理工大学微系统研究中心	130	1877	24.0	38.0
3	徐征	大连理工大学微系统研究中心	52	292	9.0	14.0
4	陈阳	大连理工大学微系统研究中心	5	29	3.0	5.0
5	黎永前	大连理工大学微系统研究中心	6	46	3.0	6.0