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摘要:
工欲善其事,必先利其器,对于电子设计工程师和检修技术人员来说,一套好的测量分析工具能起到事半功倍的效果。8月18日,Tektronix(泰克)公司和National Instruments(美国国家仪器简称NI)公司共同在西安举办了“2004设计、验证及测试论坛”,这是此次巡回论坛中国大陆的第五站,200多名电子工程师和高校师生参加了此次论坛,会上来自泰克和NI的工程师,分别就新型Open Windows示波器和LabVIEW7.1功能进行了演讲,并现场结合两种产品的应用作了演示。
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文献信息
篇名 LabVIEW与Open Windows示波器 开创测试测量新理念——“2004设计、验证及测试论坛”侧记
来源期刊 电子元器件应用 学科 工学
关键词 LABVIEW7.1 OPEN WINDOWS 示波器 功能
年,卷(期) dzyqjyy_2004,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 i008
页数 1页 分类号 TM935
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邓辉 2 0 0.0 0.0
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2004(0)
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研究主题发展历程
节点文献
LABVIEW7.1
OPEN
WINDOWS
示波器
功能
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
月刊
1563-4795
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座240
1999
chi
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5842
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7
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