基于PHEMT工艺的5 GHz锁相环芯片

• 作者: 朱恩 沈祯 王志功 王雪艳 程树东 郁炜嘉
• 来源期刊: 东南大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 锁相环 鉴相器 压控振荡器 砷化镓赝晶高电子迁移率器件工艺
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 157-160
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.8
• 字数: 2300字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-0505.2004.02.004

摘要

给出了基于0.2 μm砷化镓赝晶高电子迁移率器件工艺设计的高速锁相环芯片的电路结构、性能分析与测试结果.芯片采用吉尔伯特结构的鉴相器和交叉耦合负阻差分环形压控振荡器,总面积为1.15 mm×0.75 mm.锁定时中心工作频率为4.44 GHz,锁定范围约为360 MHz,在100 kHz频偏处的单边带相位噪声约-107 dBc/Hz,经适当修改后可应用于光纤通信系统中的时钟数据恢复电路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王志功	东南大学射频与光电集成电路研究所	342	2153	20.0	29.0
2	朱恩	东南大学射频与光电集成电路研究所	64	419	9.0	16.0
3	王雪艳	东南大学射频与光电集成电路研究所	4	44	3.0	4.0
4	程树东	东南大学射频与光电集成电路研究所	5	21	3.0	4.0
5	郁炜嘉	东南大学射频与光电集成电路研究所	3	16	2.0	3.0
6	沈祯	东南大学射频与光电集成电路研究所	2	7	1.0	2.0