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摘要:
在现代复杂电子系统中,内建测试(BIT)技术作为提高系统可维修性和可测试性的重要手段,日益得到普遍重视和广泛应用.文中分析了雷达数据采集与特征提取系统中可测试性设计(DFT)方法,提出了基于DSP+双FPGA 的BIT系统实现结构.故障模拟测试结果表明,设计达到了系统指标要求.
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文献信息
篇名 雷达数据采集与特征提取系统BIT设计与实现
来源期刊 电子工程师 学科 工学
关键词 雷达数据采集 内建测试 可测试性设计 DSP 双FPGA结构
年,卷(期) 2004,(1) 所属期刊栏目 测控技术
研究方向 页码范围 1-4,19
页数 5页 分类号 TN957.52
字数 5044字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-4888.2004.01.001
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研究主题发展历程
节点文献
雷达数据采集
内建测试
可测试性设计
DSP
双FPGA结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息化研究
双月刊
1674-4888
32-1797/TP
大16开
江苏省南京市
28-251
1975
chi
出版文献量(篇)
4494
总下载数(次)
11
总被引数(次)
24149
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