利用数据采集卡实现快速XAFS

• 作者: 刘涛 吴自玉 张静 胡天斗 薛超 谢亚宁
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 同步辐射 快速扫描X射线吸收精细结构谱 原位 数据采集
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 新一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 885-889
• 页数: 5页
• 分类号: TL8
• 字数: 3958字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2004.12.002

摘要

在北京同步辐射实验室的1W1B XAFS实验站上利用工业控制中的数据采集技术建立了快速扫描XAFS实验方法.探讨了实验方法与各种实验参数:如单色器移动速率、采样次数、设备通信方式等的制约关系,以及获得最佳实验条件的途径.新方法可在数十秒的时间尺度内得到扩展X射线吸收精细谱,近边谱的时间可以更短,从而有可能应用于一些与时间过程有关的原位实验中.作为一个应用实例,用快速扫描X射线吸收精细结构谱(QXAFS)测量了非晶硒在快速加热过程中的结构变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡天斗	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	90	733	16.0	23.0
2	张静	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	149	920	17.0	24.0
3	刘涛	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	145	871	16.0	22.0
4	吴自玉	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	41	387	11.0	18.0
5	谢亚宁	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	76	532	13.0	19.0
6	薛超	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	1	5	1.0	1.0