传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响

• 作者: 孙秋霞 张鉴清 林薇薇
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 化学
• 关键词: 阻抗谱 传输线 涂层厚度 阻挡性 粘结力
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 页码范围: 1205-1209
• 页数: 5页
• 分类号: O646
• 字数: 4254字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0412-1961.2004.11.016

摘要

根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法,探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用.CR电路拟合稳定性较高,对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律,导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响.对于阻挡性不完整的薄涂层,在-定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f*变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关,但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化,并解释了其原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鉴清	浙江大学化学系	175	3677	35.0	52.0
5	孙秋霞	浙江大学化学系	4	57	3.0	4.0
7	林薇薇	浙江大学高分子系	22	344	10.0	18.0