线吸收系数能谱效应解析法研究

• 作者: 刘军 刘进 施将君 李必勇
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 医学
• 关键词: 闪光照相 有效线吸收系数 谱硬化 解析法
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 所属期刊栏目: 粒子束及加速器技术
• 页码范围: 1356-1360
• 页数: 5页
• 分类号: O434.1|R814.3
• 字数: 3322字
• 语种: 中文

摘要

用数值模拟的方法研究了FTO客体材料的线吸收系数随着穿透材料深度的变化关系,并拟合出材料有效线吸收系数与厚度之间的函数表达式.研究结果表明,在闪光照相中X光能谱发生了硬化,并随着穿透材料深度的增加谱平均线吸收系数会随之减小.FTO客体中钨的平均有效线吸收系数O.838(4.53%)cm-1,铜的平均有效线吸收系数O.297(4.96%)cm-1,能谱效应对有效线吸收系数的影响小于5%.在图像重建中利用上述的线吸收系数能够反演出精度达5%的材料密度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘军	中国工程物理研究院流体物理研究所	90	351	11.0	14.0
2	刘进	中国工程物理研究院流体物理研究所	54	213	9.0	12.0
3	施将君	中国工程物理研究院流体物理研究所	37	191	9.0	12.0
4	李必勇	中国工程物理研究院流体物理研究所	11	120	7.0	10.0