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摘要:
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适用于高级数字网络测试的边界扫描芯片特性研究
高级数字网络测试
边界扫描
IEEE1149.6
可测试性设计
基于STD总线的多路数字I/O设计
STD总线
I/O
CPLD
工业控制
基于CompactPCI总线数字隔离I/O模块的实现
输入/输出
PLX9030隔离
驱动
弹载控制器数字I/O端口的ESD防护
弹载控制器
ESD
数字I/0
端口保护
磁珠
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 NI6528高级数字I/O设备
来源期刊 仪表技术 学科
关键词
年,卷(期) 2004,(3) 所属期刊栏目 仪器和相关产品动态
研究方向 页码范围 40
页数 1页 分类号
字数 1099字 语种 中文
DOI
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2004(0)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
仪表技术
月刊
1006-2394
31-1266/TH
大16开
上海市
4-351
1972
chi
出版文献量(篇)
4081
总下载数(次)
14
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