无损数据压缩在存储测试系统中的应用研究

• 作者: 张志杰 裴东兴 谢浔
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 存储测试 数据采集 无损数据压缩 LZW算法 FPGA
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: ADC、DAC与数据采集
• 页码范围: 165-168
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 2196字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2004.z1.042

摘要

本文探讨了无损数据压缩技术在存储测试系统中的应用.通过对几种常用的无损数据压缩方法比较,验证了LZW算法在存储测试系统中应用的可行性,给出了LZW算法的基本思想及改进方法,并研究了利用VHDL及FPGA实现硬件压缩的可行性,并且实践验证了LZW算法在存储测试系统中具有较好的压缩效果.因此用FPGA实现无损数据压缩可以获得较高的速率,适合在存储测试系统以及微型数据采集系统中应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	裴东兴	华北工学院仪器科学与动态测试教育部重点实验室	22	241	7.0	15.0
2	张志杰	华北工学院仪器科学与动态测试教育部重点实验室	24	209	8.0	14.0
3	谢浔	华北工学院仪器科学与动态测试教育部重点实验室	3	12	2.0	3.0