全反射现象中半明半暗视场的分界线位置的测量

• 作者: 华俊 洪海涛 赵辉 陶卫
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 全反射 CCD 边缘检测 图像测量
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 406-407,422
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2004.05.003

摘要

和平行光照射遮光物体产生的实边缘相比,全反射现象中半明半暗视场的分界线处的虚边缘情况更为复杂.使虚边缘质量有明显下降的主要因素有3个:光的色散、高频噪声和CCD光敏元处于临界状态所带来的问题.使用基于图像处理的测量方法,采用CCD作为成像器件,获取虚边缘附近的灰度图像.应用改进后的基于一阶微分期望值的亚像素边缘检测算法,可以快速、精确地检测到边缘的位置.经过实验验证,该方法的测量精度优于1个像素,并且具有良好的重复性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵辉	上海交通大学信息检测技术与仪器系	105	1032	17.0	29.0
2	陶卫	上海交通大学信息检测技术与仪器系	53	563	11.0	23.0
3	洪海涛	上海交通大学信息检测技术与仪器系	11	262	6.0	11.0
4	华俊	上海交通大学信息检测技术与仪器系	1	4	1.0	1.0