通过γ辐射强度的变化规律定位核元件技术研究

• 作者: 储诚胜 刘晓亚 向永春 熊宗华 章剑华 黄瑞良
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: γ辐射 标准面放射源 便携式γ谱仪
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 122-124
• 页数: 3页
• 分类号: TL8.533
• 字数: 1703字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2004.02.010

摘要

利用标准面源来模拟核材料库的γ辐射场,从实验和理论两方面研究了移走某一放射源后四个不同监测位置γ辐射强度的变化规律.结果表明,移走监控对象中某一放射源后,不同检测位置γ辐射强度的变化规律是唯一的,并与理论计算符合得很好.据此完全可以确定核材料的变化情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊宗华	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	59	4.0	7.0
2	章剑华	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	12	38	4.0	6.0
3	向永春	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	35	95	5.0	7.0
4	刘晓亚	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	23	99	4.0	9.0
5	黄瑞良	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	8	50	4.0	7.0
6	储诚胜	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	31	3.0	4.0