光散射对Z-扫描的影响

• 作者: 佘卫龙 冯伟刚 王晓生 许坤远
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 光电子学 Z-扫描 光折变效应 光散射
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 115-119
• 页数: 5页
• 分类号: O436.2|O437.5
• 字数: 3027字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2004.01.030

摘要

以光折变晶体KNSBN为研究对象,从理论和实验上仔细研究了标准的Z轴扫描技术,发现材料导致的光散射对测量结果有影响.因此把Z-扫描技术应用于光散射比较强的材料时,在进行Z-扫描测量时需排除光散射的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	佘卫龙	中山大学光电材料与技术国家重点实验室	74	641	13.0	20.0
2	王晓生	中山大学光电材料与技术国家重点实验室	18	182	7.0	13.0
3	冯伟刚	中山大学光电材料与技术国家重点实验室	1	6	1.0	1.0
4	许坤远	中山大学光电材料与技术国家重点实验室	1	6	1.0	1.0