碳糊修饰电极吸附伏安法测定食品中的锑

• 作者: 严规有 夏姣云
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: 锑 食品 碳糊修饰电极 吸附伏安法
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 研究报告与简报
• 页码范围: 13-15
• 页数: 3页
• 分类号: O657.12
• 字数: 2009字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0720.2004.07.005

摘要

研制了溴邻苯三酚红(BPR)作修饰剂的碳糊修饰电极,并用此电极作工作电极建立了测定痕量锑的吸附伏安法.在选定的实验条件下,峰电流与Sb(Ⅲ)浓度在8.0×10-9～2.0×10-7 mol/L范围内呈线性关系,检出限为2.0×10-9 mol/L,10次测定相对标准偏差为2.0%,不用分离,可直接测定食品中痕量Sb(Ⅲ),测定的回收率为90%～103%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏姣云	中南大学化学化工学院	9	34	3.0	5.0
2	严规有	中南大学化学化工学院	11	42	3.0	6.0