XLPE电缆绝缘层残余应力的测试及工艺改进

• 作者: 俞忠 周雁 沈勇 章铭杰 陈巨兵
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 云纹干涉 光栅应变花 残余应力 交联聚乙烯
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 1-2,14
• 页数: 3页
• 分类号: O348
• 字数: 1562字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2004.03.001

摘要

由于交联聚乙烯电缆生产过程中产生的残余应力对其绝缘性能影响很大[1],而残余应力的随机性,很难准确计算其大小及方向,因此采用云纹干涉技术测试交联聚乙烯电缆绝缘层的机械内应力.通过加热释放残余应力,测试得出了它随温度和时间变化的释放规律:应力释放幅度随温度的变化,在某些温度段呈递增而在另一温度段则呈递减趋势;应力释放总量随自然时效时间的增加而增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈巨兵	上海交通大学工程力学系	10	32	3.0	5.0
2	沈勇	上海交通大学工程力学系	9	27	4.0	5.0
3	俞忠	上海交通大学工程力学系	10	72	4.0	8.0
4	周雁		4	6	2.0	2.0
5	章铭杰		2	4	1.0	2.0