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增强型4H-SiC埋沟MOSFET的工作机理
增强型4H-SiC埋沟MOSFET的工作机理
作者:
杨晓菲
赵艳英
原文服务方:
电子质量
碳化硅
埋沟
MOSFET
摘要:
本文对一种新型增强型4H-SiC埋沟MOSFET结构的工作机理进行了研究.通过对不同偏压下电荷分布和电势分布的分析,分别总结了线性区和饱和区所包含的工作模式.
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文献信息
篇名
增强型4H-SiC埋沟MOSFET的工作机理
来源期刊
电子质量
学科
关键词
碳化硅
埋沟
MOSFET
年,卷(期)
2004,(9)
所属期刊栏目
IC工程
研究方向
页码范围
62-63
页数
2页
分类号
TN304.2+1
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2004.09.027
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
赵艳英
西安电子科技大学微电子研究所
1
0
0.0
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2
杨晓菲
西安电子科技大学微电子研究所
1
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传播情况
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1999(1)
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参考文献(1)
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2001(1)
参考文献(1)
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2004(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
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节点文献
碳化硅
埋沟
MOSFET
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1980-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
6848
总下载数(次)
0
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