高温闪烁晶体Ce:YAP的化学腐蚀形貌

• 作者: 周圣明 徐军 曾雄辉 李红军 赵广军 郭聚平 钱振英
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Ce:YAP晶体 闪烁晶体 位错 腐蚀形貌
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 123-125
• 页数: 3页
• 分类号: O772
• 字数: 1808字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2004.01.027

摘要

本文报导了Ce:YAP晶体位错蚀坑的腐蚀条件;同时报导了几个主要晶面的位错蚀坑形貌,(100)面呈扁豆形,(010)面呈菱形,(101)面呈椭圆形,这些形状与各自晶面的对称性一致.通过蚀坑形貌在晶体横截面内观察到了小面生长核心区和熔质尾迹等缺陷,并分析了其成因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李红军	中国科学院上海光学精密机械研究所	83	1136	19.0	29.0
2	徐军	中国科学院上海光学精密机械研究所	290	2418	22.0	34.0
3	赵广军	中国科学院上海光学精密机械研究所	55	422	11.0	16.0
4	周圣明	中国科学院上海光学精密机械研究所	48	298	9.0	16.0
5	曾雄辉	中国科学院上海光学精密机械研究所	21	118	7.0	10.0
6	钱振英	中国科学院上海光学精密机械研究所	2	17	2.0	2.0
7	郭聚平	中国科学院上海光学精密机械研究所	5	36	5.0	5.0