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CCD测量系统倍频插值细分技术
CCD测量系统倍频插值细分技术
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摘要：
在CCD的电子测量系统中,需要解决的是系统的测量精度和提高分辨率的问题,文中论述解决该问题的新方法-倍频插值细分技术.详细介绍该方法的基本原理及软硬件实现,并用系统测量结果证明方法的可实现性.
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研究主题发展历程
节点文献
倍频细分技术
相关箝位双采样
失准角测量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测量技术
主办单位：
北京无线电技术研究所
出版周期：
半月刊
ISSN：
1002-7300
CN：
11-2175/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市东城区北河沿大街79号
邮发代号：
2-336
创刊时间：
1977
语种：
chi
出版文献量（篇）
9342
总下载数（次）
50
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