基于全定制IP设计的漏电流功耗仿真计算方法

• 作者: 周玉梅 张锋 黄令仪
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 漏电流功耗 堆积因子 有效宽度 高阻态
• 年，卷（期）: 2004,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1169-1174
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 字数: 4217字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2004.09.024

摘要

提出了一种自顶向下的基于晶体管级的全定制IP漏电流功耗计算方法,该方法计算快速高效,实用性强,取代了以往完全依靠软件仿真进行功耗计算的技术.在设计龙芯Ⅱ号CPU中的全定制IP时应用了此方法,该芯片采用的是中芯国际0.18μm CMOS工艺技术.为了验证该方法,把计算结果与Synopsys公司的Nanosim仿真结果进行对比,误差只有10%左右.由于软件仿真需要大量的测试激励与计算时间,而该方法不需要外加测试激励便可以计算出全定制IP漏电流功耗,并能快速找到其模块所在位置,使设计周期大为缩短,因此完全可以针对这种计算方法开发相应软件及进行应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周玉梅	中国科学院微电子研究所	94	1031	16.0	28.0
2	张锋	中国科学院微电子研究所	59	509	10.0	21.0
3	黄令仪	中国科学院微电子研究所	12	63	3.0	7.0