从大腕眼中看中国IC设计的发展--大唐微电子技术有限公司专访

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作者：

黄秀玲

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篇名	从大腕眼中看中国IC设计的发展--大唐微电子技术有限公司专访
来源期刊	电子测试	学科
关键词
年，卷（期）	2004,（4）	所属期刊栏目	封面故事
研究方向		页码范围	18-19
页数	2页	分类号
字数	2197字	语种	中文
DOI	10.3969/j.issn.1000-8519.2004.04.003