继电器触点失效预测的研究

• 作者: 姚芳 李志刚 李文华 李玲玲
• 来源期刊: 继电器
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁继电器 触点 失效预测
• 年，卷（期）: 2004,（16）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TM581.3
• 字数: 3799字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2004.16.008

摘要

用动态接触电阻测量系统进行了电磁继电器失效检测试验,检测了其触点闭合过程的接触压降.试验发现闭合过程的触点接触压降为随时间复杂变化的衰减波形,经历了由动态的弹跳、微振动再到静态的过程.数据分析表明继电器接触失效与闭合过程的弹跳时间及接触电阻峰值有一定关系,可综合考虑弹跳时间-操作次数曲线及接触电阻峰值-操作次数曲线的变化规律对继电器触点进行失效预测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志刚	河北工业大学电气工程学院	150	975	15.0	22.0
2	李玲玲	河北工业大学电气工程学院	94	747	15.0	23.0
3	李文华	河北工业大学电气工程学院	69	428	12.0	18.0
4	姚芳	河北工业大学电气工程学院	42	270	10.0	15.0