电磁兼容测试中的频谱仪饱和研究

• 作者: 孙伟国 阚德鹏 骆红廷
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁兼容 频谱仪 饱和
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 所属期刊栏目: EMC
• 页码范围: 21-23
• 页数: 3页
• 分类号: TM935.21
• 字数: 2568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2004.10.011

摘要

随着电子设备的增加,系统的电磁兼容性(EMC)日益严峻,基于频谱仪的测试则是评价其电磁兼容性能的最直接手段,而在用频谱仪检测其电磁兼容性时,频谱仪的饱和问题较为突出.本文对实际测试中遇到的问题进行分析并给出解决方法,最后用实例进行验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙伟国	西安电子科技大学机电工程学院	11	43	3.0	6.0
2	骆红廷	西安电子科技大学机电工程学院	7	16	2.0	4.0
3	阚德鹏	西安电子科技大学机电工程学院	7	30	4.0	5.0