一种行为级可测试性综合方法

• 作者: 张盛兵 李瑛 高德远
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 测试 可测试性分析 可测试性综合 行为级综合
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 所属期刊栏目: 研究探讨
• 页码范围: 51-53
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.76
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2004.10.018

摘要

伴随着高层次综合技术的普及和深入,高层次可测试性综合技术引起了广泛的关注.在简单介绍当前可测试性综合技术的现状后,提出了采用"VHDL进,VHDL出"的方式进行行为级可测试性综合的流程,并提出了一个新的行为级可测试性分析算法,然后讨论了测试点的选择、可测试结构的规范化描述和自动插入的技术与方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高德远	西北工业大学航空微电子中心	166	1045	15.0	24.0
2	张盛兵	西北工业大学航空微电子中心	142	912	15.0	23.0
3	李瑛	西北工业大学航空微电子中心	13	134	7.0	11.0