NI最新推出200MS／sPXI数字化仪和任意波形发生器

• 来源期刊: 测控自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 任意波形发生器 数字化仪 NI 推出 混合信号测试 模块化仪器 性能提升 Core 成功开发 存储容量 系列产品 消费电子 采样率 and 高精密 PXI 架构
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 页码范围: 11
• 页数: 1页
• 分类号: TP216

摘要

NI宣布推出2款最新的采样率为200MS／s的模块化仪器，将混合信号测试的性能提升至一个全新的高度。这2种全新的模块是基于NI的同步和存储核心(Synchronization and Memoty Core，简称SMC)架构成功开发的，使得NI数字化仪和任意波形发生器系列产品的采样率和板载存储容量获得双倍提高。结合了NI高精密DC、RF和高速数字PXI仪器，这2款模块是一系列应用，例如消费电子、