频谱分析仪在电磁干扰测量中的应用

• 作者: 任莉 夏红兵 汪同庆 闫河 黄扬帆
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁于扰EMI 频谱分析仪 校准 放射测试
• 年，卷（期）: 2004,（z3）
• 所属期刊栏目: 测量、控制原理及方法
• 页码范围: 46-47,52
• 页数: 3页
• 分类号: TN91
• 字数: 2038字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2004.z3.016

摘要

电磁干扰(EMI)是一种不希望存在的信号,它对电子设备或系统的正常工作会造成有害影响.为了消除EMI的影响,不但要了解有关EMI方面的问题,还要知道用何种方法和设备能得到EMI特性,从而采取相应的措施消除EMI.以往测试EMI的主要设备是EMI接收机,现在采用频谱分析仪作为EMI的测试设备,可以提高EMI测量的效率和精度,对各种EMI特性参数的测量变得更加容易.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪同庆	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	92	987	18.0	24.0
2	黄扬帆	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	30	280	11.0	15.0
3	任莉	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	18	164	8.0	12.0
4	闫河	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	11	87	7.0	9.0
5	夏红兵	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	6	20	2.0	4.0