基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 深亚微米器件的诊断与特征分析变得越来越重要
来源期刊 半导体技术 学科
关键词
年,卷(期) 2004,(7) 所属期刊栏目 封装与测试技术
研究方向 页码范围 55-56
页数 2页 分类号
字数 1724字 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2004(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
24788
论文1v1指导