衰荡腔腔长失调的实验分析

• 作者: 刘盛林 吕百达 彭勇 易亨瑜 田小强 胡晓阳
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光谱测量 失调 光腔衰荡 反射率
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 光束传输与控制,材料、薄膜及元器件
• 页码范围: 486-488
• 页数: 3页
• 分类号: TN247
• 字数: 1672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2004.z1.162

摘要

光腔衰荡法是一种高反射率的测量技术.在腔长失调的情况下,根据高斯光束空间传输表达式和光腔衰荡法测量原理,建立了反射率测量的理论模型.利用模拟计算,得到了腔长失调对衰荡信号的影响.通过与实验现象相比较,证明了理论分析方法是合理的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕百达	四川大学激光物理与化学研究所	292	2252	21.0	28.0
2	易亨瑜	四川大学激光物理与化学研究所	33	281	11.0	15.0
4	胡晓阳		26	181	8.0	12.0
7	彭勇		15	127	7.0	11.0
8	田小强		10	71	4.0	8.0
9	刘盛林		2	37	2.0	2.0