数字IC可测性设计及其EDA流程

• 作者: 李正光 雷加
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 IC测试 电子设计自动化(EDA)
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 22-25
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 4628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2004.04.009

摘要

介绍了数字IC可测性设计(DFT)的概念和方法及其在电子设计自动化(EDA)环境中的实现流程.DFT实质上就是在设计时更改或添加设计结构和模块,使之能够满足测试的需要.它的目标包括:所设计的电路和系统易于测试;由此设计所引起的附加硬件应尽可能少;电路的附加部分对原来电路的性能影响应尽可能少;设计方法的适应面要广.着重介绍了内建自测试DFT、内扫描DFT、边界扫描DFT、IEEE P1500--嵌入式核的测试标准.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷加	桂林电子工业学院电子工程系	38	197	8.0	11.0
2	李正光	怀化学院物理系	4	15	1.0	3.0