程序升温-漫反射红外光谱考察SAPO-34分子筛表面酸性质

• 作者: 张平 王乐夫
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 化学
• 关键词: 程序升温-漫反射红外光谱 SAPO-34分子筛 羟基 酸性
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 39-41
• 页数: 3页
• 分类号: O657.33
• 字数: 1501字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2004.01.010

摘要

将程序升温-漫反射红外光谱用于表征磷酸硅铝分子筛 SAPO-34表面酸性质; 结果表明, SAPO-34分子筛中的桥联羟基 Si- OH- Al具有较强的热稳定性; 结合 NH3探针考察表明, SAPO-34分子筛具有 B酸和 L酸两种酸中心, 其中 B酸较强, 是 SAPO-34酸性的主要部分, 而 L酸中心较弱.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王乐夫	华南理工大学化学工程系	142	1675	22.0	30.0
2	张平	广州大学环境科学系	60	349	11.0	14.0