宣德官窑青花瓷的面扫描分析

• 作者: 何伟 冯敏 朱剑 杨益民 毛振伟 王昌燧 黄宇营
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 历史
• 关键词: 青花瓷 SRXRF 面扫描 无损检测
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 页码范围: 902-906
• 页数: 5页
• 分类号: K854.2|O571.33
• 字数: 2663字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0593.2004.08.002

摘要

用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析, 结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式. 根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Hg, Rb, Sr, Y和Zr等13个元素分为3组. 它可作为各个朝代青花瓷"指纹元素"的选择依据, 并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱剑	中国科学技术大学科技史与科技考古系	19	171	9.0	12.0
2	王昌燧	中国科学技术大学科技史与科技考古系	171	1678	20.0	26.0
3	何伟	中国科学院高能物理研究所	94	1342	21.0	34.0
4	黄宇营	中国科学院高能物理研究所	75	448	11.0	17.0
5	毛振伟	中国科学技术大学科技史与科技考古系	45	420	13.0	16.0
6	杨益民	中国科学技术大学科技史与科技考古系	24	216	9.0	14.0
7	冯敏	中国科学技术大学科技史与科技考古系	49	670	15.0	22.0