基于 HP VEE 的电磁辐射自动测试软件设计

• 作者: 刘浩 张昆 焦建君 邱扬
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁辐射 自动测试 HP VEE
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 25-28
• 页数: 4页
• 分类号: TN06
• 字数: 1611字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2004.01.007

摘要

介绍了信息电子设备电磁辐射测试的条件、要求和测试方法. 详细讨论了如何用 HP VEE 可视化编程语言实现基于 GPIB 总线的电磁辐射自动测试软件设计的思路、结构及组成. 本文的设计方法和设计思路适用于计算机系统以及其他电子设备的电磁辐射测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘浩	西安电子科技大学机电工程学院	14	72	5.0	8.0
2	邱扬	西安电子科技大学机电工程学院	65	461	12.0	19.0
3	张昆	西安电子科技大学机电工程学院	5	13	3.0	3.0