基于单片机的多功能电路测试平台

• 作者: 丁铁夫 刘建 吴平 郑喜凤
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 AT89C51 集成电路测试
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TM930.9|TN407
• 字数: 2417字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2004.01.006

摘要

介绍了一种基于AT89C51单片机的多功能电路测试平台,给出了测试平台的硬件组成和软件实现方法.该测试平台主要完成对某专用计算器中央控制电路板的电路、器件的在线测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑喜凤	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	92	1321	18.0	33.0
2	丁铁夫	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	75	955	17.0	27.0
3	吴平	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	29	261	10.0	15.0
7	刘建	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	76	1345	21.0	35.0