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电子封装中极易出现的几个问题
电子封装中极易出现的几个问题
作者:
戎蒙恬
褚骏
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
封装
焊接
成型
偏位
支架
黑胶
跳线
焊锡下流
摘要:
微电子产业已逐渐演变为设计、制造、封装三个既紧密联系又相对独立的产业,与前面两个环节相比,封装涉及的范围广,带动的基础产业多.本文论述了封装制程中经常出现的问题,分析了它们产生的原因和可能造成的危害,并对封装中应力的作用以及湿气引起的腐蚀等问题作了一些较深入的讨论.
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文献信息
篇名
电子封装中极易出现的几个问题
来源期刊
世界电子元器件
学科
工学
关键词
封装
焊接
成型
偏位
支架
黑胶
跳线
焊锡下流
年,卷(期)
2004,(7)
所属期刊栏目
元器件装配
研究方向
页码范围
82-84
页数
3页
分类号
TN6
字数
3413字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1006-7604.2004.07.024
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
戎蒙恬
上海交通大学电子工程系
229
1198
15.0
22.0
2
褚骏
上海交通大学电子工程系
1
19
1.0
1.0
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
封装
焊接
成型
偏位
支架
黑胶
跳线
焊锡下流
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
世界电子元器件
主办单位:
中国电子信息产业发展研究院
出版周期:
月刊
ISSN:
1006-7604
CN:
11-3540/TN
开本:
16开
出版地:
北京市北四环西路67号大地科技大厦1201-1218
邮发代号:
82-796
创刊时间:
1995
语种:
chi
出版文献量(篇)
5855
总下载数(次)
6
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