四正则图的纵横嵌入优化并行算法

• 作者: 郎丛妍 须德
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 纵横嵌入 并行算法 超载上圈
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 图形与图像
• 页码范围: 142-143,146
• 页数: 3页
• 分类号: TP301
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2004.06.051

摘要

纵横嵌入术已为超大规模集成电路(VLSI)的平面设计提供了较完备的理论体系,在EREW PRAM(Exclusive-Rread and Exclusive-Write Parallel Random Access Machine)并行计算模型上,使用O((m+n)/ logn)个处理器,时间复杂度为O(logn),对四正则图的纵横嵌入图优化,使图中边的总折数达到最少且所占面积最小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	须德	北京交通大学计算机与信息技术学院	54	923	17.0	29.0
2	郎丛妍	北京交通大学计算机与信息技术学院	11	74	5.0	8.0