嵌入式存储器测试方法研究

• 作者: 曹顺 李金凤 汪滢
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 关键词: 存储器测试 功能故障模型 March算法 BIST
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 12-14
• 页数: 3页
• 字数: 2430字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-6941.2004.12.005

摘要

本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障,字内耦合故障,字间耦合故障的测试算法,并综合得到最优的动态字存储器测试算法.通过Verilog HDL语言仿真了一个2k*4*128的故障动态存储器,测试时采用存储器的BIST结构,实验的结果表明该测试方法对所有故障的覆盖率均为100%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李金凤	沈阳化工学院信息工程学院	40	179	7.0	12.0
2	汪滢	沈阳化工学院信息工程学院	41	219	8.0	12.0
3	曹顺	沈阳化工学院信息工程学院	18	112	6.0	10.0