边界扫描SRAM簇板级互连测试研究

• 作者: 刘明云 李桂祥 杨江平 项建涛
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 SRAM簇 互连 测试
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 封装与测试技术
• 页码范围: 61-66
• 页数: 6页
• 分类号: TN304.07
• 字数: 4267字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2004.03.017

摘要

由于边界扫描结构的复杂与费用的关系,在现代电子电路中广泛使用的静态随机存取存储器还很少包含边界扫描结构.本文提出了一种能完全实现SRAM簇互连测试的方法,该方法能检测SRAM簇控制线、数据线和地址线的板级互连故障,且测试长度较短.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李桂祥	空军雷达学院雷达系统工程系	31	194	9.0	13.0
2	项建涛	空军雷达学院雷达系统工程系	12	24	3.0	4.0
3	杨江平	华中科技大学电子与信息工程系	6	40	3.0	6.0