原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析

• 作者: 丁庆平 刘东剑 刘慢天 吴英 唐昶环 安竹 段艳敏
• 来源期刊: 四川大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 卢瑟福背散射(RBS) 能量刻度 电子碰撞 原子内壳层电离截面
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 1221-1224
• 页数: 4页
• 分类号: O562.4
• 字数: 2300字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0490-6756.2004.06.027

摘要

作者使用241Amα标准源与卢瑟福背散射相结合的方法,对四川大学原子核科学技术研究所的2.5MeV静电加速器进行了能量刻度,并利用卢瑟福背散射方法测量了一系列Al衬底金属薄靶的厚度,所测结果与称重法进行了比较.作者将卢瑟福背散射方法所测厚度值运用到电子碰撞引起原子内壳层电离截面的测量工作中,取得了满意的结果.