断层扫描分析法用于联用色谱二维数据的解析Ⅰ定性分析:原理与应用

• 作者: 亓云鹏 吴玉田 宋云龙 李通化 柴逸峰 范国荣 陆峰
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 联用色谱 褶合曲线分析法 断层扫描分析法 定性分析
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 897-901
• 页数: 5页
• 字数: 4208字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.2004.07.013

摘要

提出一种对色谱-光谱二维数据进行信息处理的全新手段--断层扫描分析法.它以逐层"剥离"的方式对二维数据进行"断层扫描",并结合褶合曲线分析理论进行数据挖掘,可实现色谱峰纯度检验和归属判定、重叠色谱峰解析与定量分析等功能,并最终获得分析体系的全部定性定量信息.本文介绍了断层扫描分析法用于定性分析的原理及其在实验体系中的应用情况.结果表明:断层扫描分析法用于定性分析可实现色谱峰定性(归属)鉴别、纯度检验以及选择性区域的识别等,在中药等复杂体系的分析中具有重要的研究意义和良好的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋云龙	第二军医大学药学院药物分析教研室	35	319	10.0	17.0
2	吴玉田	第二军医大学药学院药物分析教研室	119	1606	26.0	33.0
3	范国荣	第二军医大学药学院药物分析教研室	123	1248	18.0	27.0
4	陆峰	第二军医大学药学院药物分析教研室	87	895	18.0	25.0
5	李通化	同济大学化学系	60	480	13.0	19.0
6	柴逸峰	第二军医大学药学院药物分析教研室	187	1796	22.0	30.0
7	亓云鹏	第二军医大学药学院药物分析教研室	38	344	10.0	17.0