机电设备BIT系统中虚警的传感层影响机理分析

• 作者: 刘冠军 杨光 温熙森 邱静
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: BIT 虚警率 传感层 机理分析 诊断
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TP206
• 字数: 3615字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2004.03.024

摘要

BIT系统中存在较高的虚警率是制约其发展的关键问题之一,降低BIT系统中虚警率的研究是BIT研究中的主要内容之一.传感数据变化影响诊断输出,从而产生虚警的机理分析,它是后续的降虚警技术研究的基础.首先对传感层测试变化影响诊断输出,进而产生虚警进行了模型分析,然后分析了不同的测试变化类型对基于模型的诊断方法的影响机理.研究结果证明传感层因素对BIT系统中虚警的影响,能有效地指导降虚警技术的研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱静	国防科技大学机电工程研究所	115	1406	22.0	30.0
2	刘冠军	国防科技大学机电工程研究所	88	860	18.0	23.0
3	温熙森	国防科技大学机电工程研究所	96	1778	24.0	38.0
4	杨光	国防科技大学机电工程研究所	24	290	8.0	16.0