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摘要:
BIT系统中存在较高的虚警率是制约其发展的关键问题之一,降低BIT系统中虚警率的研究是BIT研究中的主要内容之一.传感数据变化影响诊断输出,从而产生虚警的机理分析,它是后续的降虚警技术研究的基础.首先对传感层测试变化影响诊断输出,进而产生虚警进行了模型分析,然后分析了不同的测试变化类型对基于模型的诊断方法的影响机理.研究结果证明传感层因素对BIT系统中虚警的影响,能有效地指导降虚警技术的研究.
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文献信息
篇名 机电设备BIT系统中虚警的传感层影响机理分析
来源期刊 测控技术 学科 工学
关键词 BIT 虚警率 传感层 机理分析 诊断
年,卷(期) 2004,(3) 所属期刊栏目 理论与实践
研究方向 页码范围 66-68
页数 3页 分类号 TP206
字数 3615字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8829.2004.03.024
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邱静 国防科技大学机电工程研究所 115 1406 22.0 30.0
2 刘冠军 国防科技大学机电工程研究所 88 860 18.0 23.0
3 温熙森 国防科技大学机电工程研究所 96 1778 24.0 38.0
4 杨光 国防科技大学机电工程研究所 24 290 8.0 16.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (2)
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参考文献  (2)
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2013(1)
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研究主题发展历程
节点文献
BIT
虚警率
传感层
机理分析
诊断
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测控技术
月刊
1000-8829
11-1764/TB
大16开
北京2351信箱《测控技术》杂志社
82-533
1980
chi
出版文献量(篇)
8430
总下载数(次)
24
总被引数(次)
55628
论文1v1指导