δ端子绝缘对CVT介损的影响

• 作者: 王光临 陈宏伟
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电容式TV 自激法 介损 异常
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 现场经验与技术交流
• 页码范围: 57-58
• 页数: 2页
• 分类号: TM451.2
• 字数: 1125字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2004.01.023

摘要

论述和分析证明了一例自激法测量CVT介损异常的原因为δ端子绝缘下降,给出的修正公式可取得较准确的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈宏伟		1	0	0.0	0.0
2	王光临		2	2	1.0	1.0