ZnO压敏电阻界面导电特性研究

• 作者: 杨邦朝 禹争光
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化锌压敏电阻 纯氧化锌陶瓷 光电子能谱 非化学计量 陷阱态
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 709-710,715
• 页数: 3页
• 分类号: TN304
• 字数: 2721字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2004.06.015

摘要

采用相同的工艺制备ZnO压敏电阻和未掺杂ZnO陶瓷片后,用扫描电镜(SEM)、电阻率计和X射线光电子能谱(XPS)对它们形貌、电阻率、界面化学计量比和电子状态进行了研究.实验发现:未掺杂ZnO晶粒粒径小于10μm且均匀性差;ZnO电阻率对烧结气氛敏感,其值在2.36～47.97Ω·cm之间,界面存在非化学计量氧锌比,O/Zn=1.29.掺杂后,ZnO压敏电阻界面价电子峰减小,证实压敏电阻陷阱态的存在,表明需用载流子陷阱态补充双肖特基势垒模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	禹争光	电子科技大学微电子与固体电子学院	8	112	5.0	8.0
2	杨邦朝	电子科技大学微电子与固体电子学院	253	3422	31.0	49.0