基于PC与数据采集系统的DSP&CPU芯片功能验证方案

• 作者: 侯朝焕 张铁军 时昕
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 超大规模集成电路 验证 功能验证 测试平台
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 页码范围: 132-134,137
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.11.036

摘要

随着现代超大规模集成电路设计、制造工艺的快速发展,芯片的测试与验证所需的费用也越来越高.针对这个问题,本文提出了一种数字芯片的功能验证方案,该方案充分利用了PC机的丰富资源和数据采集系统的强大功能,有效地降低了数字芯片功能验证的成本.作者成功地运用该方案对一个百万门级的DSP&CPU芯片进行了功能验证,实际应用证明,该方案使用灵活、可靠,并且可以大幅降低芯片验证所需的费用,为数字芯片的功能验证提供了可以借鉴的有效方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯朝焕	中国科学院声学研究所	156	1085	18.0	25.0
2	张铁军	中国科学院声学研究所	52	240	9.0	12.0
3	时昕	中国科学院声学研究所	2	51	2.0	2.0