自动测试系统中的信号开关设计

• 作者: 于劲松 徐波 李行善
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试系统 开关系统 硬件集成
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TP274+.5
• 字数: 3117字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2004.08.023

摘要

开关系统是整个自动测试系统的核心,开关系统在自动测试系统中实现测点与测试仪器间的连接,测试信号的路由切换以及被测单元与电源系统的连接.笔者从自动测试系统设计的角度重点讨论了开关系统的拓扑结构、开关选择以及自动测试系统中开关的布局与配置.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李行善	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	51	1697	21.0	41.0
2	徐波	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	10	244	8.0	10.0
3	于劲松	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	68	1241	19.0	34.0